菲希爾膜厚儀Deltascope FMP30

菲希爾膜厚儀Deltascope FMP30

您一定能從新的FMP家族中找到適合您的儀器。選擇儀器的主要標準是涂鍍層的種類及其底材的材料，然后再決定您是要一個基本款的儀器(菲希爾FMP10/Dualscope FMP20)，亦或是擁有擴展的應(yīng)用程式存儲內(nèi)存、大量的圖形和統(tǒng)計計算功能以及多種測量選項的機型(菲希爾FMP30/Dualscope FMP40)。

菲希爾膜厚儀Deltascope FMP30

Probe V1FGA1HR34貨號604-183

帶微處理芯片智慧型插拔式磁感應(yīng)探頭。特殊的探頭用于測量直徑大于7mm的軸套或管子內(nèi)部。手柄到測量元件的長度為100mm，亦即可測量的距離。

測量范圍：0-1000 μm（NF/Fe） 0-40 mils               

包括：Fe 基準板和校準片 

Probe FGAB1.3  604-141

帶微處理芯片的智慧型插入式磁感應(yīng)探頭。若需要時，可修改存儲器。并有抗磨損涂層。

電纜長度：1.5m（5 feet）

測量范圍：0 - 2000 μm（NF/Fe）

     0 - 80 mils

測量誤差：0-100um：0.5um

     100-1000um：0.5%

     1000-2000um：<3%

包括Fe基材和兩片標準片