Fischerscope X-RAYXAN250菲希爾測(cè)厚儀

 Fischerscope X-RAYXAN250菲希爾測(cè)厚儀

Fischerscope X-RAYXAN250菲希爾測(cè)厚儀

菲希爾x射線測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)
菲希爾XAN250德國(guó)設(shè)計(jì)：技術(shù)*
菲希爾XAN250一個(gè)軟件實(shí)現(xiàn)鍍層厚度測(cè)量和材料分析兩個(gè)功能
擴(kuò)展統(tǒng)計(jì)功能。例如，測(cè)量結(jié)果可以記錄并轉(zhuǎn)為SPC圖表顯示
Fischerscope X-ray圖像識(shí)別：WinFTM可以自行查找預(yù)設(shè)的測(cè)量位置
Fischerscope X-ray基于基本參數(shù)分析的無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量：在手邊樣本組成未知的情況下實(shí)現(xiàn)精確的測(cè)量結(jié)果
距離控制測(cè)量（DCM）：無(wú)需移動(dòng)軸即可保持與不規(guī)則形狀樣品的正確測(cè)量距離。只需將攝像頭聚焦到樣品表面即可。剩下的由WinFTM軟件完成。這要比移動(dòng)軸快。此外，沒(méi)有軸與樣品碰撞的風(fēng)險(xiǎn)
測(cè)量質(zhì)量：我們的儀器可以判斷您的測(cè)量質(zhì)量。錯(cuò)誤地選擇了錯(cuò)誤的測(cè)量任務(wù)或測(cè)量了錯(cuò)誤的樣品？您的FISCHERSCOPE儀器會(huì)提醒您
任務(wù)程式：只需單擊一下，幾乎可以對(duì)WinFTM軟件中執(zhí)行的所有操作進(jìn)行編程并執(zhí)行。例如，一項(xiàng)任務(wù)可以自動(dòng)測(cè)量多個(gè)合金樣品。 X射線儀器將XY工作臺(tái)移動(dòng)到樣品位置，加載每個(gè)合金特定的測(cè)量條件，最后根據(jù)您的需要生成測(cè)試報(bào)告

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門(mén)級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢(qián)幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），多可同時(shí)測(cè)定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。Si-PIN的*基本參數(shù)法，可以在沒(méi)有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。

菲希爾x射線測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
高性能機(jī)型，具有強(qiáng)大的綜合測(cè)量能力
配有4 個(gè)電動(dòng)調(diào)節(jié)的準(zhǔn)直器和6個(gè)電動(dòng)調(diào)節(jié)的基本慮片
配備高分辨率硅漂移探測(cè)器 (SDD)，還適用于更復(fù)雜的多元素分析
由下至上的測(cè)量方向，可以非常簡(jiǎn)便地實(shí)現(xiàn)樣品定位 

菲希爾測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域：
對(duì)電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個(gè)納米的功能性鍍層進(jìn)行測(cè)量
對(duì)有害物質(zhì)進(jìn)行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量
在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對(duì)合金進(jìn)行高精度的分析
用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域