Fischerscope X-ray測(cè)厚儀

       Fischerscope X-ray測(cè)厚儀的特點(diǎn)：根據(jù)DINISO3497和ASTMB568，用X射線熒光法分析電鍍液和測(cè)量鍍層厚度XULM的最小測(cè)量點(diǎn)約0.1mm；XUL最小測(cè)量點(diǎn)約0.5mm鎢X射線管或鎢微聚焦管（XULM）作為X射線源。

　　采用經(jīng)實(shí)踐驗(yàn)證的短測(cè)量時(shí)間的比例接收器準(zhǔn)直器：固定或4個(gè)自動(dòng)切換

　　初級(jí)過(guò)濾器：固定或3個(gè)自動(dòng)切換固定樣品臺(tái)或手動(dòng)XY載物臺(tái)用于光學(xué)觀察測(cè)量點(diǎn)的攝像頭經(jīng)認(rèn)證的全面防護(hù)設(shè)計(jì)；FischerMP0系列測(cè)厚儀應(yīng)用：電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產(chǎn)的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護(hù)電鍍液中金屬含量的分析裝飾性涂層Cr/Ni/Cu/ABS>電子行業(yè)連接器和觸點(diǎn)上的鍍層。

      Fischerscope X-ray測(cè)厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它特別適用于測(cè)量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPEX-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。

　　XAN500采用的硅漂移探測(cè)器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測(cè)靈敏度。依靠FISCHER的*基本參數(shù)法，可以在沒(méi)有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。

　　使用XAN500型手持式儀器可以對(duì)大型工件以及臺(tái)式儀器難以測(cè)量的位置進(jìn)行便捷快速的測(cè)量。設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的優(yōu)化使得儀器可以唄安全第放置到工件上，無(wú)論是鍍層測(cè)厚或者材料分析，都可以保證其測(cè)量結(jié)果的再現(xiàn)性。同時(shí)，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺(tái)式測(cè)量設(shè)備，以便檢測(cè)小型樣品。