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FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測厚儀

更新時(shí)間：2024-06-15

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廠商性質(zhì)：代理商

生產(chǎn)地址：

簡要描述：

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測厚儀，是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計(jì)的。

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產(chǎn)品介紹：

品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,石油,能源,電子/電池

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測厚儀

FISCHERXDV-µ測量儀

FISCHERXDV-µ測量儀是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至60µm。FISCHERXDV-µ測量儀短時(shí)間內(nèi)就可形成高強(qiáng)度聚焦射線。是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至60µm。短時(shí)間內(nèi)就可形成高強(qiáng)度聚焦射線。。是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至60µm。

短時(shí)間內(nèi)就可形成高強(qiáng)度聚焦射線。系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至60µm。短時(shí)間內(nèi)就可形成高強(qiáng)度聚焦射線。60µm。短時(shí)間內(nèi)就可形成高強(qiáng)度聚焦射線。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測厚儀