Couloscope CMS2 STEP 菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀介紹

Couloscope CMS2 STEP 菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀介紹

COULOSCOPE CMS2 STEP菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀

•與COULOSCOPE CMS2附錄中描述的相同功能用于STEP測(cè)量測(cè)量

•可調(diào)節(jié)的除鍍電流

•使用光標(biāo)確定涂層厚度和潛在差異

•自動(dòng)測(cè)量序列，用于調(diào)節(jié)銀參比電極（產(chǎn)生所需的AgCl涂層）

STEP測(cè)試（同時(shí)厚度和電化學(xué)勢(shì)測(cè)定），ASTM B764，DIN EN 16866

在電鍍行業(yè)中，對(duì)多層鎳鍍層中各自層的同時(shí)的厚度和電極電位的測(cè)定變成了一個(gè)越來(lái)越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個(gè)鎳層?reg;間足夠的電位差導(dǎo)致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個(gè)鎳層的穿透速度，并且給了基材相對(duì)于單鍍層更好的防腐保護(hù)。